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Pete Hulbert, 行业顾问Yuegang Zhao, Keithley 资深应用工程师概述对于研究半导体电荷捕获和退化行为来说,交流或脉冲应力对典型的应力测试是一个有用的补充。NBTI(负偏置温度不稳定性)和TDDB(随时间变化的介电击穿)试验包括应力/测量循环。所施加的应力电压通常是一

CMOS可靠性测试新趋势:脉冲技术如何助力AI、5G、HPC?

背景随着科技的进步和认识的提高,人类探索宇宙空间的范围和深度大大拓展,例如2015年9月14日,人类首次探测到两个黑洞并合所产生的引力波,由LIGO科学团队与VIRGO团队共同合作。LIGO 激光干涉引力波天文台(laser interferometer gravitational wave obs

“源”察秋毫 -- Keithley在场发射技术中的应用

介绍源测量单元(SMU)可同时输出和测量电压、电流,广泛用于器件与材料的I-V特性表征,尤其擅长低电流测量。在测试系统中存在长电缆或高寄生电容的情况下,部分SMU可能因无法容忍负载电容而产生读数噪声或振荡。Keithley 4201-SMU(中功率)与4211-SMU(高功率,支持4200-PA前置

面向高电容连接的低电流I-V表征:从OLED器件到纳米级FET的测试实践