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问:对于金属外壳的DUT,在测试CEI和CEV的时候,接地和不接地这两种case为什么结果有大差异,可以画图详细解释一下吗?答:思考清楚附图的问题,你的疑惑估计就解决了。CEI和CEV本质都是测试线束上的噪声电流值,接地与不接地改变的就是这
各位大牛请问这个错误怎么解决,在封装里一个part中设置了power、passive两种pin type,放到原理图就报error prcap1619,该怎么解决呢
Cannot load symbol 'MPXC-P5-L15W6_4-HP2_55' because WARNING(SPMHUT-127): Could not find padstack T_CIR86_86_56. due to ERROR(SPMHDB-274): Unable

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