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对于金属外壳的DUT,在测试CEI和CEV的时候,接地和不接地这两种case为什么结果有大差异

提问于
2023-01-16 16:35

问:对于金属外壳的DUT,在测试CEI和CEV的时候,接地和不接地这两种case为什么结果有大差异,可以画图详细解释一下吗?
答:思考清楚附图的问题,你的疑惑估计就解决了。CEI和CEV本质都是测试线束上的噪声电流值,接地与不接地改变的就是这个噪声电流回路的阻抗大小,会很大程度上影响这个电流的大小,当然测试结果会有很大差异。

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赛盛技术

深圳市赛盛技术有限公司成立于2005年,为企业提供全流程全方位电磁兼容技术服务与硬件研发培训服务。 服务范围:硬件技术培训服务、EMC正向设计开发、EMC整改技术服务、EMC检测认证服务、EMC设计平台软件、EMC研发体系建设、EMC诊断设备; 服务领域:航空航天、舰船系统、汽车电子(整车及其零部件)、电力系统、轨道交通、AI智能机器人、通信设备、医疗、工业设备以及消费电子等; 技术团队:近20位EMC技术专家,具有知名企业的从业背景,在EMC正向设计开发、EMC仿真分析、研发体系建设、屏蔽滤波接地等方面处于国内领先水平; 讲师团队:10余位知名专家老师,均从事研发工作15年以上,拥有丰富的工程经验,培训案例大多来自讲师实际工程经验总结。 服务价值:一站式EMC解决方案,从源头上解决问题,提高一次通过率,降低生产成本,缩短上市周期,提高市场竞争力; 培训价值:通过培训,帮助企业快速提升研发人员设计/整改能力,打造高效并具有核心竞争力的研发团队,为企业解决人才培训培养问题,同时减少因为前期设计不当导致的时间、人力、测试成本,实现有效项目费用管控。 服务覆盖:30000+研发工程师,8000+企业,1000+产品,10+行业领域; 公司资质:几十项实用新型专利,多项发明专利,多项软件著作权,深圳市高新技术企业,国家高新技术企业,CNAS认可EMC实验室,ISO9001认证企业,汽车电子协会常务理事单位,质量管理与检测促进会副会长单位。