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面向高电容连接的低电流I-V表征：从OLED器件到纳米级FET的测试实践

介绍源测量单元（SMU）可同时输出和测量电压、电流，广泛用于器件与材料的I-V特性表征，尤其擅长低电流测量。在测试系统中存在长电缆或高寄生电容的情况下，部分SMU可能因无法容忍负载电容而产生读数噪声或振荡。Keithley 4201-SMU（中功率）与4211-SMU（高功率，支持4200-PA前置

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SMUOLED器件纳米级FET

面向高电容连接的低电流I-V表征：从OLED器件到纳米级FET的测试实践