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从脉冲 I-V 到 Segment Arb：解锁 4200A-SCS 高速半导体测试能力

简介高速IV脉冲和测量是某些半导体应用（如功率器件测试或减少直流测量引起的自热效应）的常见需求。4200A-SCS参数分析仪的双通道4225-PMU超快I-V模块（PMU）支持多种高速源/测量应用。PMU有三种超快IV源和测量模式：脉冲IV、波形捕获和Segment Arb波形。这三种模式如图1所示

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半导体高速IV脉冲

从脉冲 I-V 到 Segment Arb：解锁 4200A-SCS 高速半导体测试能力