网口电路就是我们硬件设计时经常见到的 10M/100M/1000M WAN口防护电路，常包含网口变压器、RJ45端子、电阻、高压电容、普通电容和电感，具体电路形态如后面的描述：根据中心抽头的处理形式，我们一般分为电压型和电流型。（1）电流型电流型请注意在PHY侧，网口变压器（Transformer）

在印刷电路板制造中，可能会遇见裸板测试（主要用于监测PCB在生产过程中可能出现的缺陷，如开路、短路、错位等，以此确保后续装配和使用的顺利进行）。本文将介绍几种常用的PCB裸板测试方案，希望对小伙伴们有所帮助。1、AOI测试（自动光学检测）A

电磁屏蔽体可以隔离电磁干扰，保护敏感电子设备正常工作，在工业和国防领域有着广泛的应用。屏蔽效能是衡量屏蔽体性能的核心指标，屏蔽效能的准确测量对屏蔽体的优化设计和性能评估至关重要。在工程实践中，两类特殊屏蔽体的屏敲效能测试往往存在困难。大型、

曾经的我呢还一个单纯的小攻城狮，当自己设计完的电路板通过了功能测试、性能测试、环境实验后，我就可以开开心心的玩耍了，但是永远也想想不到用户会把你的产品用在什么地方（客户你们考虑过产品的感受吗）。

信号完整性测试（SI）是硬件测试的常见内容之一，也是通信/无线工程师需要重点了解的基础内容之一，但有很多小白遇见SI问题却不知道如何解决，所以本文将重点分享常见的信号完整性测试（SI）问题及解答内容。1、反射产生的原因一般来说，反射产生的原

​答：绘制实心的符号与前文中所提到的放置器件的填充的大同小异的，前者一般用于二极管或者三极管的时候，需要对那个小三角形区域进行填充，方便识别。而这一种一般是用于原理图中的测试点封装。

电子工程师在设计物联网设备时，经常会被要求多关注EMI测试，这是因为物联网设备在设计者制造过程中进行EMI测试的重要性不能小觑，EMI测试是检测设备在电磁环境下是否能正常工作以及是否对周围设备和环境产生不良影响的关键步骤。那么物联网设备为什

MODE有效折射率结果与Uranus等人的结果非常接近。对于这种对数值网格的微小变化（以及实际制造缺陷）非常敏感的结构，计算损耗则更加困难，并且需要进行一些收敛测试才能找到更准确的结果。收敛测试我们首先将感兴趣的两种模式复制到全局DE