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硬件规格如下:VH6501采样点测试原理是:干扰一帧报文中某一位的采样点附近的总线电平,利用CAN错误帧机制,根据ECU是否发送错误帧来判断是否出现采样错误,进而计算ECU的采样点。测量该位未被干扰部分的脉宽(T_unaffected),除以整个位时间(T_bit),即可得到采样点位置:采样点 =
硬件规格如下:VH6501采样点测试原理是:干扰一帧报文中某一位的采样点附近的总线电平,利用CAN错误帧机制,根据ECU是否发送错误帧来判断是否出现采样错误,进而计算ECU的采样点。测量该位未被干扰部分的脉宽(T_unaffected),除以整个位时间(T_bit),即可得到采样点位置:采样点 =