扫码关注
STM32多通道采样用规则组+扫描模式+DMA循环：规则组排好通道顺序，扫描模式按顺序转换，DMA自动把结果搬到内存数组。采样时间按源阻抗选，用前执行ADC校准。具体通道数、采样周期、分辨率按芯片型号和手册。
本文概述
STM32 ADC是嵌入式面试高频题，尤其是多通道采集（电压、电流、温度）。面试官想听的不是"打开ADC读寄存器"，而是你懂不懂规则组和注入组的区别、扫描模式怎么用、DMA怎么配、采样时间为什么要按源阻抗选、以及校准怎么做。本文从STM32 ADC结构讲起，覆盖规则组/注入组、单次/连续/扫描模式、DMA循环传输、采样时间与源阻抗匹配、内部电压参考校准、多通道排序，并强调所有配置按所用STM32型号手册，不套固定值。
核心要点
规则组：常规转换序列，最多16个通道，按Rank排序，DMA自动搬数据
注入组：高优先级打断规则组，最多4个通道，用于紧急信号
扫描模式：按规则组Rank顺序自动转换多个通道，配合DMA
采样时间：按信号源阻抗选（阻抗大要拉长采样周期），否则采样不准
校准：使用前执行ADC校准（如STM32F1的CAL位），消除内部失调误差
参考电压：用内部VREFINT做基准校准，VDD不稳时提高精度
面试官考察点
考察点拆解
面试官问STM32 ADC，重点考察：第一，规则组和注入组的区别；第二，扫描模式+DMA怎么配合做多通道；第三，采样时间为什么和源阻抗有关；第四，校准和VREFINT怎么用。
追问方向：采样时间怎么算、DMA双缓冲、多通道顺序、分辨率与精度。
回答思路
答题主线
建议按"ADC结构 → 规则组/扫描 → DMA → 采样时间 → 校准 → 多通道排序"来答。
先讲规则组与注入组：常规与紧急。
讲扫描+DMA：多通道自动采集。
讲采样时间：和源阻抗匹配。
讲校准与VREFINT。
参考回答
我先讲STM32 ADC的两种组，再讲多通道怎么配。
第一，规则组和注入组。STM32 ADC把通道分成两组：
| 对比项 | 规则组 | 注入组 |
|---|---|---|
| 通道数 | 最多16个 | 最多4个 |
| 优先级 | 常规 | 可打断规则组 |
| 用途 | 多通道常规采集 | 紧急信号（过压/过流） |
| DMA | 支持自动搬数据 | 可注入通道寄存器 |
规则组（Regular Group）：常规转换序列，按Rank（0~15）排序，是日常多通道采集的主力；
注入组（Injected Group）：最多4个通道，可以在规则组转换到一半时打断并插队，转换完再回到规则组。用于紧急信号（如过压保护、过流检测）。
多数应用只用规则组+DMA；需要紧急响应才用注入组。
第二，扫描模式+DMA做多通道。典型多通道采集配置：
在规则组里按Rank排好通道顺序（Rank 0=CH0, Rank 1=CH1...）；
开扫描模式（Scan Conv Mode）：ADC自动按Rank顺序逐个转换；
开DMA：每转换完一个通道，DMA自动把结果搬到内存数组（uint16_t buf[N]），CPU不参与；
用连续模式或定时器触发启动转换。连续模式下ADC转完一轮自动开始下一轮。
这样buf[0]永远是Rank 0通道、buf[1]是Rank 1通道，软件按固定下标读即可。
第三，采样时间为什么按源阻抗选。ADC采样阶段需要通过采样电容给内部保持电容充电。信号源阻抗越大，充电越慢，就需要更长的采样周期，否则采样电容没充到真实电压，结果偏小。STM32采样时间可选几个档位（如1.5/7.5/.../239.5个ADC时钟周期，具体按型号）。高阻源（如大阻值分压、高阻传感器）选长采样时间，低阻源（运放跟随输出）可选短采样时间。
第四，校准。STM32 ADC上电后有内部失调误差，使用前执行一次校准（如F1系列置CAL位，等硬件清零），让内部失调寄存器校正。校准结果影响零点。
第五，VREFINT做基准。STM32内部有VREFINT通道（如1.2V基准），可以用它反推实际VDD：如果VREFINT在3.3V下采到1.2V值为x，那实际VDD=1.2×4096/x。当VDD不稳（电池供电、USB供电）时，用VREFINT校准能提高外部电压测量精度。
第六，分辨率与精度。STM32 ADC常见12位（0~4095），每lsb=VDD/4096。精度不止看分辨率，还看INL、DNL、失调误差、噪声，以及采样时间、参考源质量。
