新型激光扫描技术问世，可显示超分辨率

近日，来自奥地利格拉茨大学的研究人员成功研发一种新型的测量成像方法，可在没有染料或标签的辛苦下解析光衍射极限的纳米结构，这种新型技术的问世，有利于弥补传统显微镜和超分辨率技术之间的差距，或可用于观察复杂样片的精细特征。

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据了解，该项研究具体细节及成功被整理发表在国际光学出版集团的高影响力期刊《光学》上，这场实验是对激光扫描显微镜的改进，它采用聚焦激光束照射标本，而研究人员扩展了这项技术，它不仅可以测量光与被测标本相互作用后的两度获强度，也可测量广场中编码的其他参数。

奥地利格拉茨大学的研究团队负责人彼得·班泽说，“我们的方法可帮助扩展用于研究各种样品中纳米结构的显微工具箱。与基于类似扫描方法的超分辨率技术相比，我们的方法是完全非侵入性的，这意味着它不需要在成像前向标本中注入任何荧光分子。”

以往的激光扫描显微镜中，光束在样片上扫描，并测量来自样品的透射光、反射光或散射光。大多数的显微镜方法测量来自样品的光强度或亮度，但大量信息存储在光的其它特性中。如相位、偏振和散射角等。研究人员需要捕捉到这些额外的信息。

研究人员发现，光的相位、偏振和强度在空间上都会发生变化，而这种变化方式包含了与之相互作用的样品细节，如果旨在相互作用胡测量总体光功率，将会丢失大部分信息。

班泽说，尽管这些颗粒及其距离比许多显微镜的分辨率极限要小得多，但新方法能够解决这一问题。更重要的是，该算法能够提供有关标本的其他参数，如颗粒的精确大小和位置。

这也意味着，若是实验结果属实，新型激光扫描技术发展前景可期。

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