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在深亚微米时代,信号完整性(SI)已经成为芯片性能的“隐形杀手”,随之而来是更严重的接地反弹、串扰、时序紊乱等问题,传统的解决方案已经失效,因此本文将针对其三大方案,直击要害。1、电路设计:从源头扼杀SI风险①边沿速率(Slew Rate)
在高速电路设计中,信号完整性是决定系统稳定性的核心要素。接地反弹(Ground Bounce)与衬底耦合(Substrate Coupling)作为两大隐蔽性极强的噪声源,常导致时序错乱、逻辑误判甚至系统崩溃。下面将简短介绍这两个专业名词。
在深亚微米时代,信号完整性(SI)已经成为芯片性能的“隐形杀手”,随之而来是更严重的接地反弹、串扰、时序紊乱等问题,传统的解决方案已经失效,因此本文将针对其三大方案,直击要害。1、电路设计:从源头扼杀SI风险①边沿速率(Slew Rate)
在高速电路设计中,信号完整性是决定系统稳定性的核心要素。接地反弹(Ground Bounce)与衬底耦合(Substrate Coupling)作为两大隐蔽性极强的噪声源,常导致时序错乱、逻辑误判甚至系统崩溃。下面将简短介绍这两个专业名词。