可测性设计中常见问题及解决方法（下）

之前我们聊了可测性设计的四个常见问题及解决方法，接下来将更新下篇，希望能够帮助到小伙伴们，以及若是想看上篇，可点击右侧链接《可测性设计中常见问题及解决方法（上）》。

5、有内部生成的异步复位、置位信号；

内部生成的异步复位、置位信号的处理：有些设计存在内部生成的异步复位、置位信号，如果不对这些信号进行控制，则在扫描过程中，极有可能改变寄存器的状态，从而破坏扫描链中的数据，为避免这种问题，应加入相应的控制逻辑，以保证在扫描模式下这些异步信号不会影响扫描寄存器的状态。

6、在扫描模式下，在三态总线上有冲突；

三态缓冲的处理：有些设计中存在三态缓冲单元，在扫描时这些三态缓冲不应出现输出冲突的现象。

此外，全扫描只检查0与1，无法检查高阻，因此输出总线上不应为高阻态，在扫描时恪尽职守所有三态缓冲使能信号，然后通过上下拉电阻给总线固定值，从而避免输出总线上的高阻态，但这种方法消耗功耗过大，所以常见方法是在扫描时只允许一个三态缓冲使能。

7、设计中存在锁存器；

锁存器的处理，若DC设计中存在锁存器，讲给扫描测试带来问题，若锁存器的使用是不可避免，则需要在扫描测试时使这些锁存器保持使能状态，这样看起来就像是“透明的”，数据直接可以通过锁存器来传递。

若一个设计中包含大量锁存器，且希望对这些锁存器进行扫描测试，则可以将它们置换为LSSD（电平敏感扫描设计）单元，然后单独组成扫描链。

LSSD是锁存器扫描设计中最常用的方法，在LSSD扫描单元中，两个锁存器构成了master slave对。

8、存在存储器等无法扫描测试的电路；

存储器的处理：在设计中，存储器是很常见的，存储器是无法进行扫描测试，一般采用BIST方法进行测试。在进行扫描测试时，可将存储器看做是一个黑盒子，扫描链可绕开存储器。

9、存在反馈环路。

反馈环路的处理：在设计中应尽量避免组合反馈环路，这是因为反馈环路会导致静态时序分析、DFT等难以处理，并可能会潜伏着错误。