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本篇内容根据《电子微组装可靠性设计》改编，本篇的思维导图如下电子微组装可靠性设计的挑战，来自两个方面：一是高密度组装的失效与控制；二是微组装可靠性的系统性设计。一、高密度组装的失效与控制高密度组装的代表性互连模式有两类，一类是元器件高密度组装，有两种典型的芯片组装方式，即芯片并列式组装（2D）和3D
激光芯片的可靠性是一项十分关键的指标，无论是小功率的激光笔还是要求较高的激光通信芯片，都需要进行芯片的老化和可靠性的测试。 相比于传统的电子类的芯片，激光的测试比较复杂，牵涉到光、电的测量，也要考虑封装形式的区别。老化试验是作为芯片的一个检测手段，在研发初期，也可以通过芯片老
本篇根据《电子微组装可靠性设计（基础篇）》的相关内容改编，本篇的思维导图如下，重点介绍四个方面的内容一、基于失效物理可靠性设计方法的缘起和发展二、基于失效物理可靠性设计方法的基本原理三、基于失效物理可靠性设计方法的核心技术链四、失效物理模型及应用基于失效物理（PoF）的可靠性设计方法，即应在产品性能
1 引言产品的可靠性是设计、制造出来的，是管理出来的，也是试验出来的。可靠性作为产品的固有属性，主要靠设计制造来保证，但必须通过试验予以验证和评估。可靠性试验的目的是发现产品在设计、材料和工艺方面的缺陷；并对其达到的可靠性定量指标进行评估，为评估产品的战备完好性、任务成功性、维修人力费用和保障资源
由于企业发展的需要，2014年在一家从未接触可靠性的企业，负责可靠性研究及应用推 广；通过学习、交流、研讨，逐步摸索出一些可靠性应用的经验，结合过程中自身的困惑和收获，分享下如何在中小企业推广应用可靠性的几个建议，抛砖引玉，希望对那些准备开展可靠性的企业，尤其是中小型企业有所帮助。一、可靠性落地的重
电子微组装封装概念
本篇为《电子微组装可靠性设计（基础篇）》节选电子微组装封装技术，是用于电子元器件、电子微组装组件（HIC、MCM、SiP等）内部电互连和外部保护性封装的重要技术，它不仅关系到电子元器件、电子微组装组件自身的性能和可靠性，还影响到应用这些产品的电子设备功能和可靠性，特别是对电子设备小型化和集成化设计有
高速PCB设计指南之三
高速PCB设计指南之三第一篇 改进电路设计规程提高可测试性 随着微型化程度不断提高，元件和布线技术也取得巨大发展，例如BGA外壳封装的高集成度的微型IC，以及导体之间的绝缘间距缩小到0.5mm，这些仅是其中的两个例子。电子元件的布线设计方式，对以后制作流程中的测试能否很好进行，影响越来越大
电子设备热设计基础知识
电子设备热设计是可靠性设计的一项关键技术。热设计的目的是要保证电子元器件及设备在规定的热环境下，能安全正常的工作。掌握热设计的基本原则，正确选择电子设备的冷却方法，对提高电子设备的热可靠性至关重要。本篇主要讨论如下五个问题:一、电子设备热设计的目的;二、电子设备的热环境;三、电子设备冷却方法的分类;
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