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S参数被大量应用于高速电路和高频电路设计和仿真中。对于越来越高速的电子产品,以及不仅仅是信号完整性和电源完整性工程师需要了解S参数,对于电子工程师、测试工程师和EMC工程师等等都需要了解。
在IC封装的分析中,为了能够提取到更加趋近于真实测量结果的参数S参数(或者其他参数),需要在封装体上添加假性球体和参考层,下面来讲解添加假性球体和参考层的方法。
S参数被大量应用于高速电路和高频电路设计和仿真中。对于越来越高速的电子产品,以及不仅仅是信号完整性和电源完整性工程师需要了解S参数,对于电子工程师、测试工程师和EMC工程师等等都需要了解。
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